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  微電腦多功能電解測(cè)厚儀 CMS2 /CMS2 STEP

  微電腦多功能電解測(cè)厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架（例如：STEP測(cè)量槽） 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試。

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  多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2

  多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之-一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)

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  cms2-step微電腦多功能電解測(cè)厚儀

  cms2-step微電腦多功能電解測(cè)厚儀 庫侖法是一種簡(jiǎn)單易行的電化學(xué)分析方法，可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量，但它也適用于檢測(cè)印刷電路板上剩余純錫的厚度。

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  微電腦多功能電解測(cè)厚儀配置說明

  微電腦多功能電解測(cè)厚儀配置說明 該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。

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  微電腦多功能電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2

  微電腦多功能電解測(cè)厚儀Couloscope CMS2 德國FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測(cè)厚儀-----根據(jù)庫侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。

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  費(fèi)希爾多功能電解測(cè)厚儀基本款

  費(fèi)希爾多功能電解測(cè)厚儀基本款 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。

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  微電腦多功能電解測(cè)厚儀STEP

  微電腦多功能電解測(cè)厚儀STEP 庫侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。 這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

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